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MIL-STD-883更名并作重大修改
关键词：微电子器件　　试验方法和程序　　质量一致性　　塑封器件　　染色渗透试验　　可靠性工程　　生产工艺　　国军标　　国防科工委　　内部目检
美军标MIL-STD-883,原名《微电子器件试验方法和程序》,从1968年问世以来,对微电子器件可靠性的提高起着重要的作用。由于该标准中的试验方法已从初版的48项增至今天的105项,内容涉及微电子器件的来料检验和控制、设计检验和控制、工艺检验和控制、筛选、鉴定和质量一致性检验等各个领域,试验内容全面、细致(有多项试验方法的单项内容超过2万字),紧紧结合微电子器件的技术水平和使用要求,因此世界各国高可靠微电子器件的试验标准无不以此为蓝本。我国也不例外,国军标GJB548-88是以1983年的MIL-STD-883的C版为蓝本,GJB548A-96是以1991年的MIL-STD-883的D版为蓝本制定的。我国至今的有效版本仍是GJB548A。
可靠性概念的应用必须确切
关键词：关键电子元器件　　可靠性　　可靠性概念
由于“关键电子元器件”部分定义的错误,给型号电子产品用电子元器件可靠性工作造成困难和混乱。文章指出由于这个概念的混乱给可靠性工作带来的损失,并指出在可靠性领域这种貌似清晰明了,而实际错误的可靠性术语绝不止一个。呼吁可靠性同行对这些问题予以足够的重视,以推动可靠性工作的开展。

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