MIL-STD-883更名并作重大修改
更新时间：2019-05-21
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关键词：微电子器件 试验方法和程序 质量一致性 塑封器件 染色渗透试验 可靠性工程 生产工艺 国军标 国防科工委 内部目检
发明人：郑鹏洲
作者单位：北京航空航天大学
内容提要：美军标MIL-STD-883,原名《微电子器件试验方法和程序》,从1968年问世以来,对微电子器件可靠性的提高起着重要的作用。 由于该标准中的试验方法已从初版的48项增至今天的105项,内容涉及微电子器件的来料检验和控制、设计检验和控制、工艺检验和控制、筛选、鉴定和质量一致性检验等各个领域,试验内容全面、细致(有多项试验方法的单项内容超过2万字),紧紧结合微电子器件的技术水平和使用要求,因此世界各国高可靠微电子器件的试验标准无不以此为蓝本。 我国也不例外,国军标GJB548-88是以1983年的MIL-STD-883的C版为蓝本,GJB548A-96是以1991年的MIL-STD-883的D版为蓝本制定的。我国至今的有效版本仍是GJB548A。
期刊名：质量与可靠性
期号：第4期
年份：2001
页数：81
