Bi0.5Sb1.5Te3层状定向微结构的生长及其影响_中文_会议论文

Bi_0.5Sb_1.5Te₃层状定向微结构的生长及其影响

更新时间：2019-05-21 访问次数：

分类号：TB383.2

会议名称：第十七届全国高技术陶瓷学术年会

会议地点：中国江苏南京

召开年：2012

摘要：本文以p型Bi_0.5Sb_1.5Te₃热电材料为研究对象,采用磁控溅射技术制备了具有精细纳米结构的薄膜材料,利用扫描电子显微镜（SEM）和X射线粉末衍射（XRD）对Bi_0.5Sb_1.5Te₃薄膜的微结构进行了表征和分析,并测试了薄膜材料的热电性能。结果表明:较高的沉积温度（350℃以上）利于薄膜结晶性的增强,同时也利于薄膜层状纳米结构的形成和（001）晶面择优定向性

Bi_0.5Sb_1.5Te₃层状定向微结构的生长及其影响

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