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基于线结构分析的档案图像倾斜校正

更新时间:2019-05-21 访问次数:
关键词:档案图像  倾斜校正  线结构分析张量
发明人:杨有李晓虹
作者单位:北京航空航天大学计算机学院数字媒体实验室  北京  (100083);重庆师范大学数学与计算机科学学院  重庆  (400047);重庆师范大学数学与计算机科学学院  重庆  (400047)
内容提要:档案数码化为政府档案资源深度利用提供了途径,数码化后的档案图像倾斜校正是数字档案质量的必然要求,也是数字图像的预处理过程。通过引入一个多尺度的高斯滤波器,可以对档案图像的全局特征进行增强,继而在增强的图像中,定义基于梯度函数的结构分析张量,提取像素点的线结构似然信息,对于大于一定阈值的线结构信息,计算其倾角,最后利用倾角直方图的统计特性确定档案图像的倾斜度。实验表明,该方法对文本富裕档案具有普遍适应性。
期刊名:计算机科学
期号:第1期
年份:2007
页数:195-198