晶体表面宏观迹线分析方法及其应用
更新时间：2019-05-21
访问次数：
关键词：晶体表面 宏观迹线 分析方法 Ti-56Al单晶
作者单位：Department of Materials Science and Engineering;VA 22903;USA;大冶特殊钢股份有限公司技术中心;北京航空航天大学材料科学与工程系
内容提要：从晶体表面宏观迹线配置，提出精确确定各种晶系晶体的取向、计算单晶３个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等边线分布的方法；作为应用实例，精确确定了一种四方点阵结构的Ｔｉ－５６Ａｌ（原子分数，％）单晶的宏观取向，计算和拟合出试样３个不严格垂直表面的指数及其上全部边线分布。
期刊名：金属学报
期号：第1-12期
年份：2000
页数：212-217
