关键词:二分图 覆盖问题 无关分解 无关联子图
作者单位:云南工业大学信息与电子工程学院 (650051)
内容提要:为了解决大容量存贮器制造过程中因缺陷而造成成品率低的问题,或并行阵列中的容错重组问题,一般采用冗余修复的方法,该问题可以归结为对二分图的覆盖,且该问题属于NP完全问题.本文提出一个新的二分图无关分解方法.运用这一方法,可将一个二分图分解为多个互不关联的子图,然后分别在各子图中对缺陷进行覆盖,从而使该问题复杂度降低,提高修复速度.
期刊名:电子学报
期号:第5期
年份:1998
页数:42-47