银型活性碳纸富集—XRFA法测定工业废水中的痕量As（Ⅲ）和As（Ⅴ）
更新时间：2019-05-21
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关键词：工业废水 测定 XRFA法 As（Ⅲ）
发明人：邱林友
作者单位：昆明工学院分析测试中心 昆明
内容提要：痕量As(Ⅲ)和As(Ⅴ)的测定有分光光度、原子荧光和离子色谱等方法。利用波长色散X—射线荧光光谱法测定痕量As(Ⅲ)和As(Ⅴ)的方法,至今尚未见报导。本文用Ag型活性碳纸富集工业废水中的痕量As(Ⅲ)和As(Ⅴ)进而而用X—射线荧光光谱法测定。所用(Ag)ACP具有容量大、能抗腐蚀和有一定选择性的优点,而且背景低无需作克服基体效应的校正。经回收试验,含As(Ⅲ)和As(Ⅴ)各5,10μg,其回收率在98～102％之间。
期刊名：重庆环境科学
期号：第4期
年份：1991
页数：57-58
