基于平板探测器的2D-CT成像技术的研究
更新时间：2019-05-21
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关键词：计算机层析成像 平板探测器 2D-CT 3D-CT 射线检测
作者单位：北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京
内容提要：大面积非晶硅平板探测器(flat panel detector-FPD)在透射射线成像领域得到越来越多的应用。基于FPD的圆轨道FDK型三维计算机层析成像技术(Computed Tomography,3D-CT)检测速度快,但成像质量不及2D-CT。为发挥3D-CT速度优势,同时提高系统对物体感兴趣区域CT成像的性能,研究了一种基于FPD的、配合3D-CT功能的高像质2D-CT成像技术;提出了一种集噪声抑制、散射校正和高频细节增强于一体的2D-CT投影预处理方法,并完成了基于FPD的2D/3D-CT集成原型系统的研制。系统性能测试结果表明,基于FPD的2D-CT技术成像空间分辨率达3lp/mm,密度分辨率达5‰。
期刊名：光学技术
期号：第5期
年份：2005
页数：662-665
